可靠性環境試驗設備包括：儀器儀表、設備、恒溫恒濕試驗設備、高低溫循環試驗機、高頻振動試驗臺、應力篩選試驗箱、步入式恒溫恒濕室、冷熱沖擊試驗機、耐候試驗設備、快速溫變試驗箱、高溫老化室、老化測試室、熱沖擊試驗機、低氣壓試驗機、PCT飽和加速壽命試驗機、UV紫外線老化試驗機、淋雨試驗箱、沙塵試驗箱、鹽水噴霧試驗機、溫濕度復合式試驗箱、溫濕度三綜合測試系統等。

下面由愛色麗檢測儀器公司為您介紹電子電工產品相關可靠性試驗的方法及標準：
1.GB/T2421-1999 電工電子產品環境試驗 第1部分:總則
2.GB/T2422-1995 電工電子產品環境試驗 術語
3.GB/T2423.1-1989 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A:低溫試驗方法
4.GB/T2423.2-1989 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B:高溫試驗方法
5.GB/T2423.3-1993 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
6.GB/T2423.4-1993 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
7.GB/T2423.5-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊
8.GB/T2423.6-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞
9.GB/T2423.7-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒（主要用于設備型樣品）
10.GB/T2423.8-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落
11.GB/T2423.9-1989 電工電子產品環境基本環境試驗規程 試驗Cb:設備用恒定濕熱試驗方法
12.GB/T2423.10-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導則:振動（正弦）
13.GB/T2423.11-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨要振動-一般要求
14.GB/T2423.12-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda:寬頻帶隨機振動-高再現性
15.GB/T2423.13-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdb:寬頻帶隨機振動-中再現性
16.GB/T2423.14-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdc:寬頻帶隨機振動-低再現性
17.GB/T2423.15-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ga和導則:穩態加速度
18.GB/T2423.16-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導則 長霉
19.GB/T2423.17-1993 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ka:鹽霧試驗方法
20.GB/T2423.18-2000 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗 試驗Kb:鹽霧,交變（氯化鈉溶液）
21.GB/T2423.19-1981 電工電子產品基本試驗規程 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法
22.GB/T2423.20-1981 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Kd:接觸點和連接件的硫經氫試驗方法
23.GB/T2423.21-1991 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗M:低氣壓試驗方法
24.GB/T2423.22-1987 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗N:溫度變化試驗方法
25.GB/T2423.23-1995 電工電子產品環境試驗 試驗Q:密封
26.GB/T2423.24-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射
27.GB/T2423.25-1992 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
28.GB/T2423.26-1992 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
29.GB/T2423.27-1981 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法
30.GB/T2423.28-1982 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗T:錫焊試驗方法
31.GB/T2423.29-1990 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度
32.GB/T2423.30-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬
33.GB/T2423.31-1985 電工電子產品基本環境試驗規程 傾斜和搖擺試驗方法
34.GB/T2423.32-1985 電工電子產品基本環境試驗規程 潤濕稱量法可焊性試驗方法
35.GB/T2423.33-1989 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法
36.GB/T2423.34-1986 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環試驗方法
37.GB/T2423.35-1986 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗
38.GB/T2423.36-1986 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/Bfc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗方法
39.GB/T2423.37-1989 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗L:砂塵試驗方法
40.GB/T2423.38-1990 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗R:水試驗方法
41.GB/T2423.39-1990 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ee:彈跳試驗方法
42.GB/T2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
43.GB/T2423.41-1994 電工電子產品基本環境試驗規程 風壓試驗方法
44.GB/T2423.42-1995 電工電子產品環境試驗 低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法
45.GB/T2423.43-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 元件、設備和其他產品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動（Fc和Fd）和穩態加速度（Ga）等動力學試驗中的安裝要求和導則
46.GB/T2423.44-1995 電工電子產品基本環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eg:撞擊 彈簧錘
47.GB/T2423.45-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABDM:天氣順序
48.GB/T2423.46-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ef:撞擊 擺錘
49.GB/T2423.47-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fg:聲振
50.GB/T2423.48-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ff:振動-時間歷程法
51.GB/T2423.49-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fe:振動-正弦拍頻法
52.GB/T2423.50-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗
53.GB/T2423.51-2000 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ke:活動混合氣體腐蝕試驗
54.GB/T2424.1-1989 電工電子產品基本環境試驗規程 高溫低溫試驗導則
55.GB/T2424.2-1993 電工電子產品基本環境試驗規程 濕熱試驗導則
56.GB/T2424.10-1993 電工電子產品基本環境試驗規程 大氣腐蝕加速試驗的通用導則
57.GB/T2424.11-1982 電工電子產品基本環境試驗規程 接觸點和連接件的二氧化硫試驗導則
58.GB/T2424.12-1982 電工電子產品基本環境試驗規程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導則
59.GB/T2424.13-1981 電工電子產品基本環境試驗規程 溫度變化試驗導則
60.GB/T2424.14-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 太陽輻射試驗導則
61.GB/T2424.15-1992 電工電子產品基本環境試驗規程 溫度/低氣壓綜合試驗導則
62.GB/T2424.17-1995 電工電子產品環境試驗 錫焊試驗導則
63.GB/T2424.19-1984 電工電子產品基本環境試驗規程 模擬貯存影響的環境試驗導則
64.GB/T2424.20-1985 電工電子產品基本環境試驗規程 傾斜和搖擺試驗導則
65.GB/T2424.21-1985 電工電子產品基本環境試驗規程 潤濕稱量法可焊性試驗導則
66.GB/T2424.22-1986 電工電子產品基本環境試驗規程 溫度（低溫、高溫）和振動（正弦）綜合試驗導則
67.GB/T2424.23-1990 電工電子產品基本環境試驗規程 水試驗導則
68.GB/T2424.24-1995 電工電子產品環境試驗 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗導則
69.GB/T2424.25-2000 電工電子產品環境試驗 第3部分:試驗導則 地震試驗方法
70.GB/T10593.1-1989 電工電子產品環境參數丈量方法 振動
71.GB/T10593.2-1990 電工電子產品環境參數丈量方法 鹽霧
72.GB/T10593.3-1990 電工電子產品環境參數丈量方法 振動數據處理和回納

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